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Keiner
Halbleiter Wafer Inspektion – Hybrid & Spezial (Nasspaste und gesintert)
Lotpasteninspektionssystem (SPI) Eigenschaften
Hybrid & Spezial (Nasse, getrocknete und gesinterte Paste)
Speed
Keiner
10 – 100 cm²/s
110 – 200 cm²/s
210 – 300 cm²/s
Accuracy
Keiner
1,2 – <3 µm (only with detailed product analysis)
3 - 10 µm
11 – 18 µm
19 – 25 µm
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